WikiEdge:ArXiv-2409.06156v1/conclusion

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根据提供的文献内容，这篇论文的主要结论可以概括如下：

1. 负电容效应的稳定性分析：
   • 通过使用Landau-Devonshire理论，作者对铁电/介电异质结构中的负电容效应进行了严格的分析，确定了对于第一（二）阶铁电相变，存在三个（一个）关键的介电层厚度，这些厚度决定了负电容的稳定性。
2. 临界电场窗口的识别：
   • 研究中还识别了一个临界电场窗口，超出这个窗口，铁电负电容无法维持。
3. 负电容的稳定性与厚度关系：
   • 在第一和第二临界厚度之间，接近零极化的区域存在亚稳态负电容，但一旦电场窗口被破坏，这种负电容将丢失且无法恢复。在第二和第三临界厚度之间，稳定的负电容始终存在于零极化附近，无论初始极化状态如何，这导致了双P-E回线的出现。超过第三（第一）临界厚度的第一（第二）阶相变，P-E回线变得无滞后，尽管在足够大的电场下仍然可以诱导自发极化。
4. 有效介电常数的奇异性：
   • 在临界厚度或电场处，观察到有效介电常数的奇异性。
5. 负电容效应的调控：
   • 分析表明，通过在临界电场窗口内使用线性介电材料，可以稳定铁电材料的负电容，且对于第一阶铁电材料，负电容可以是无滞后的或有滞后的，而对于第二阶铁电材料，负电容总是无滞后的。

这些结论为理解铁电异质结构中负电容效应的稳定性和调控提供了重要的理论基础，并为低功耗微电子学的发展提供了潜在的应用前景。