WikiEdge:ArXiv-2409.06156v1/conclusion

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根據提供的文獻內容，這篇論文的主要結論可以概括如下：

1. 負電容效應的穩定性分析：
   • 通過使用Landau-Devonshire理論，作者對鐵電/介電異質結構中的負電容效應進行了嚴格的分析，確定了對於第一（二）階鐵電相變，存在三個（一個）關鍵的介電層厚度，這些厚度決定了負電容的穩定性。
2. 臨界電場窗口的識別：
   • 研究中還識別了一個臨界電場窗口，超出這個窗口，鐵電負電容無法維持。
3. 負電容的穩定性與厚度關係：
   • 在第一和第二臨界厚度之間，接近零極化的區域存在亞穩態負電容，但一旦電場窗口被破壞，這種負電容將丟失且無法恢復。在第二和第三臨界厚度之間，穩定的負電容始終存在於零極化附近，無論初始極化狀態如何，這導致了雙P-E回線的出現。超過第三（第一）臨界厚度的第一（第二）階相變，P-E回線變得無滯後，儘管在足夠大的電場下仍然可以誘導自發極化。
4. 有效介電常數的奇異性：
   • 在臨界厚度或電場處，觀察到有效介電常數的奇異性。
5. 負電容效應的調控：
   • 分析表明，通過在臨界電場窗口內使用線性介電材料，可以穩定鐵電材料的負電容，且對於第一階鐵電材料，負電容可以是無滯後的或有滯後的，而對於第二階鐵電材料，負電容總是無滯後的。

這些結論為理解鐵電異質結構中負電容效應的穩定性和調控提供了重要的理論基礎，並為低功耗微電子學的發展提供了潛在的應用前景。